Nicomp 380 DLS 納米粒度儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布,粒徑檢測范圍 0.5nm – 6nm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品*的。

Nicomp 380 DLS 納米粒度儀

基本概述：

Nicomp 380 DLS 納米粒度儀采用現在先進的動態光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很準確的分析比較復雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供的分析技術。 測試范圍：0.3 nm – 6μm。

產品介紹：

 Nicomp 380 DLS 采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 6μm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品*的。

工作原理：

動態光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

儀器參數：