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導讀:日立經典款熒光分光光度計于2019年10月推出全新附件:熒光分布成像系統(EEM View)。它擁有行業首例的技術,同時分析熒光光譜和反射光譜,將樣品的光譜信息可視化,同時獲得更加細致的光譜信息。
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