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　　電化學顯微鏡是一款精密的掃描微電極體系，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。是一種無觸摸，無破壞性的儀器，能夠用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技能是用一個振蕩電容探針來作業的，通過調理一個外加的前級電壓測量樣品外表和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和外表狀況相關。共同性質使在潮濕環境乃至是氣態環境中也能夠測量，將不或許研討變為實際。用于檢測，剖析，或改動樣品在溶液中的外表和界面化學性質。掃描振蕩電極技能是一種非破壞性掃描，使用振蕩探針，測量電化學化學樣品外表產生的電特性。確保用戶能夠實時測定和定量部分電化學反響以及腐蝕。
 

　　材料腐蝕的電化學測驗辦法局限于整個樣品的微觀測驗，測驗成果只反映樣品的不同部分方位的全體計算成果，不能反映出部分的腐蝕及資料與環境的作用機理，為進行部分外表科學研討,微區掃描體系供給了一個新的途徑，并日益得到包含部分腐蝕范疇的廣泛應用。
 

　　電化學顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學技能，它將一支能夠進行三維方向移動的超微盤電極作為作業探針沉浸在電解質溶液中，在離基底約幾微米的方位進行掃描，通過探針上的電流改變來反映基底的形貌和性質。
 

　　SECM是基于70時代末超微電極和80時代初掃描隧道顯微鏡，發展起來的具有一定空間分辨率(介于一般光學顯微鏡和STM)的電化學原位檢測辦法，其核心是電化學和原位檢測。SECM的檢測信號是電流或者電位，因此具有化學反響物質靈敏性，既而不光能夠研討探頭或者基底電極上的異相反響電荷轉移動力學和溶液中的均相反響動力學，乃至界面雙電層信息，還能夠原位分辨外表微區電化學不均勻性，能夠補償掃描電鏡等不能直接供給電化學活性信息的缺乏，電化學顯微鏡對于腐蝕研討具有重要的含義。