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　　飛納掃描電鏡以的微觀檢測能力被大家熟知，簡單的操作、方便的測樣、快速的成像以及友好的界面為飛納帶來了不少粉絲。其實，飛納電鏡除了強大的微觀檢測能力之外，它也有許多實用的可拓展功能。飛納電鏡的這些“三頭六臂”讓客戶在進行微觀分析時如虎添翼，今天就來談一談其中被很多人關注的 顆粒統計分析測量系統。
 

　　在檢測粉末樣品時，除了形貌觀察，我們有時還有統計其粒徑、圓度等的需求。如果我們依靠人工手動測量統計，會耗費很大的人力和時間。此時，如果有一款軟件能基于微觀形貌自動統計顆粒的具體信息，就會方便很多。
 

　　客戶有需求，飛納有方案 —— 顆粒統計分析測量系統應運而生
 

原理
 

　　掃描電鏡只能進行“黑白”成像，而顆粒與周圍背景 “亮度” 不一致，根據這一差異，系統會自動識別到顆粒。
 

　　檢測方式
 

　　可以根據客戶不同檢測需求進行統計，比如融合顆粒的識別設置(圖1)、覆蓋顆粒是否統計(圖2)、不完整顆粒是否統計(圖3)、小識別顆粒尺寸(圖4)等等。
 

圖 1
 

圖 2
 

圖 3
 

圖 4
 

　　統計結果
 

　　顆粒統計分析測量系統會把識別到的顆粒一一列出來，操作員可以根據需求可以刪除不滿意顆粒。其次，系統會把每一個顆粒的具體信息統計出來，比如面積、等效圓直徑、長軸長度、短軸長度等，全面地了解樣品。
 

　　當獲得了滿意的統計結果之后，還可以根據需要生成散點圖、折線圖等統計圖表(橫縱坐標自主確定)，并自動生成統計報告，顆粒統計結果一目了然。