由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來越重要，導致工業制造商對產品的質量要求更嚴格。除了產量大化外，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當尺寸和形態的顆粒。
在本篇文章中，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現顆粒均勻分散，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統分析顆粒。
分散粉末樣品的原因
為了確保顆粒分析的準確性，不僅需要分離單個顆粒，而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區別。
圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導電膠(左)和使用 Nebula™ 顆粒分散器(右)之間的掃描電鏡圖比較。
Nebula™ 顆粒分散器進行樣品制備
Nebula™ 的使用步驟如下圖所示。 在開始之前，操作者移除圓柱并取出樣品臺(通常由鋁制成)。先在樣品臺上粘貼多孔碳導電膠(a)，再將樣品臺放置在 Nebula™ 基座上(b)。蓋上圓柱，打開真空閥(c)，使真空倉內的壓力迅速降低。
操作者可以通過觀察壓力計，調節倉內的真空度(d)。一旦真空處于正確的水平，關閉真空閥(e)并將樣品放在真空倉的頂部(f)。向下按壓杠桿釋放真空(g)，使空氣流入倉內。 一旦倉內的氣壓與環境一致，就可以移除真空倉，并進行成像(h)和分析(i)。
分散粉末后需要做什么呢
當樣品中的顆粒均勻分散后，就可以使用掃描電鏡(SEM)開始分析樣品。飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統是專門為顆粒分析設計的。該軟件可以幫助用戶根據不同參數(如直徑，圓度或灰度)來分析顆粒。 通過數據中的異常值，用戶可以使用 EDX 進行元素分析，從而獲得更好的解決方案。
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