通過衍射峰的半高寬和峰高比可以研究Ni電極材料粉末顆粒的微結構特征，本文描述了應用X射線衍射法測定Ni陽電極材料結構、計算其衍射峰的半高寬和峰高比。求解峰高比時改進測定方法，采用定點測量的方法，減小了在密封式管條件下由于計數小而產生很大的計數統計誤差1/ ，使定量更準確。從而可以更好地了解Ni電極材料的電極性能，便于建立工藝條件。
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