隨著XE-150的推出，對大尺寸樣品進行無損檢測成為了一種切實可行的技術手段。XE-150分辨率高，性能穩定可靠。樣品臺可在150毫米見方或者200毫米見方的量程內自動移動，無論是掃描小尺寸樣品還是大尺寸樣品，操作起來都是得心應手。如使用Step-and-Scan功能可幫助用戶按照定制的計劃對多個目標區域進行連續自動掃描，*的提高了檢測效率。

技術參數（機械部分）：
1.  XY掃描器：100µm×100µm（閉環），可選配200µm×200 µm
2.  Z掃描器：12µm （可選配25µm）
3.  水平度：50µm線掃描垂直偏差不超過2nm

4.  XY和Z掃描器的正交性：1.0°

5.  樣品臺移動范圍：200mm×200mm（X/Y），27.5mm （Z）
6.  樣品尺寸：200mm×200mm
7.  光學觀察：垂直光路設計，可直接觀察微懸臂和樣品

技術參數（電子部分）

1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數/數模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動采集16幅圖像，分辨率高達4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協議的通訊方式與計算機聯接
5. 符合CE認證標準

標準工作模式：

. 真正非接觸模式（True non-contact mode）
. 接觸模式（contact mode）
.  相位模式（phase imaging）
. 橫向力模式（LFM）

擴展工作模式：

. 力測量（Force measurements）
. 導電（Conductive AFM）
. 電力（Electric Force）
. 電子 （Electrical）
.  磁性 （Magnetical）
.  機械 （Mechanical）
. 熱 （Thermal）