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全自動高溫老化試驗室是針對高性能電子產品模擬出高溫、惡劣環(huán)境測試的一種設備，是提高產品可靠性、穩(wěn)定性的重要實驗設備，是各大高科技企業(yè)提高競爭性和產品質量的一環(huán)重要生產流程，以此篩選出一些出廠前就未達標的不良品，為生產環(huán)節(jié)找出問題、解決問題提供有效手段，提高企業(yè)生產效率、產品質量、市場競爭。
電子產品在加工過程中，由于元器件物料的大量使用和經歷了復雜的加工，難免帶有小缺陷（沒有任何東西是wan美無缺的）。無論是元器件缺陷還是加工缺陷，都可分為潛在缺陷或明顯缺陷。
潛在缺陷的產品在當下是可以使用的，但在使用中缺陷會逐漸暴露出來，后面會導致產品不能正常工作，例如焊錫不足，產品雖然可以用，但輕微振動可能就會使焊點斷路。而明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。

明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗手段檢驗出來，可通過電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網絡的開、短路情況，具有快捷迅速、操作簡單、故障定位準確的特點。而潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn)，而是運用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則本應該被剔除的潛在缺陷產品后面流向市場，從而導致產品返修率上升，維修成本增加、企業(yè)口碑受到影響。