新款Vanta iX在線X射線熒光(XRF)分析儀現已上市。
該分析儀可以對生產線上的產品進行自動材料分析和合金pai號辨別，并即時提供結果，從而可對生產過程進行實時監控，并對產品進行無遺漏檢測。
全天候，高效易用
Vanta iX可以全天時、全天候(24/7)運行的分析儀，簡化了金屬制造和地質選礦的質量檢測過程。金屬制造過程需要受到全天時、全天候(24/7)的控制，以確保產品由正確的合金制造，避免出現代價高昂的材料混淆錯誤。
Vanta iX分析儀可以在幾秒鐘內提供明晰的材料成分和合金pai號信息，因此金屬制造商可以此證明他們的產品經過了無遺漏檢測和驗證。分析儀可提供通過/失敗結果，或完整的材料化學成分信息。在地質選礦和采礦方面，分析儀可以對巖芯進行掃查，對傳送帶上的礦石進行分析，并提供實時結果，以監控選礦和采礦過程中發生的變化，并確保礦石品位的一致性。
強大的性能
通過硅漂移探測器(SDD)和奧林巴斯業已成熟的Axon技術，這款分析儀可以對包括輕元素在內的多種金屬和合金進行檢測和牌號辨別。這款分析儀具有與其他Vanta系列分析儀相同的高計數率和穩定性。
智能整合傳輸
Vanta iX分析儀易于安裝在制造環境中：使用其兩側的安裝孔就可將其安裝到機器人或其他系統上。通過Vanta Connect API(應用程序編程接口)或一個PLC(可編程邏輯控制器)，并借助離散導線，可以輕松控制分析儀。連接器選項包括用于以太網供電的以太網(RJ-45)、USB、離散I/O(16針)和輔助DC電源。
堅固，適合生產
這款分析儀通過了振動測試(MIL-STD-810G)，符合IP54評級標準，可在-10 °C至50 °C的溫度范圍內連續工作，可以承受住生產設備的劇烈振動、強烈的電磁噪聲和聲學噪音、灰塵和濕氣的侵擾。內置散熱器可以降低分析儀內部的溫度，如果需要進一步冷卻，還可以通過風扇連接點連接一個風扇。無需使用工具，就可以更換分析儀的窗口，從而實現快速維護的目標。
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